中国科学院微电子研究所失效分析技术服务项目公示

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中国科学院微电子研究所失效分析技术服务项目公示稿件来源:发布时间:2019-06-13        ±μ和±μ微凸点的材料成分、微观结构(封装材料精确度)、晶体取向对界面金属间化合物晶粒生长模式的影响机制。 本次失效分析技术服务的微凸点具有小节距特点,要求微凸点形貌及界面材料组分分析精确、技术指标满足项目要求。

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